Mikroskopi s pretražnom probom
dr.sc. Iva Šrut Rakić
Smatra se da je mikroskopija atomskom silom (AFM), ili općenitije mikroskopija s pretražnom probom (SPM), temeljna tehnika koja je omogućila i utječe na razvoj nanotehnologije. Ovdje ćemo prikazati princip rada AFM-a koji se temelji na vrlo oštroj probi (čiji je radijus zakrivljenosti svega nekoliko nanometara), koja se nalazi na elastičnoj slobodno-ljuljajućoj letvici mikrometarskih dimenzija. Letvica i s njom vezani piezo motori omogućuju da proba kontrolirano pretražuje površinu uzorka, pri čemu sile između probe i uzorka vode na savijanje letvice, koje se detektira kao otklon laserske zrake, pri čemu se na temelju tih otklona dobiva topografska (trodimenzionalna) struktura površine uzorka.
Osim topografije, moguće je mjeriti i bogatstvo drugih kvantitativnih vrijednosti (Youngov modul, trenje, izlazni rad, vodljivost, magnetizacija, itd.), s rezolucijom od svega nekoliko nanometra, u pojedinim slučajevima i s atomskom rezolucijom. Pokazat ćemo da je AFM moguće kombinirati i sa optičkim spektroskopijama, pa tako kada se vršak AFM probe obasja infracrvenim laserom, dobiva se pretražna optička mikroskopija bliskog polja (SNOM), pomoću koje se može raditi nano-FTIR spektroskopija.
Snimanje i montaža: Berti Erjavec, dipl.ing.